简体中文 English
X
The current location: Home /News/Technical Article
氮化镓的高di/dt问题
Release date:2023-04-12 Writer: Category:Technical Article Views:546次
  • 某些封装形式会带来较大的源极漏电感 
  • 共源极电感(CSI)是功率回路和驱动回路共有的电感 
  • 高di/dt会在CSI上感应出正向或者负向的电压 
  • 在器件开通过程中，这个感应出来的电压部分抵消了门极驱动电压，使得开通时间延长 
  • 在器件关断过程中，这个感应出来的电压又和门极电压反向，导致关断时间拖延，降低效率，并导致振铃和误开通 
  • 这种负反馈机制带来较长的电压-电流交叠时间，增加开关损耗 
  • 氮化镓器件通常需要一个开尔文脚来分离功率回路和驱动回路

Prev:
氮化镓通态电阻Rdson随Vgs的变化
Next:
氮化镓功率器件击穿电压随温度变化
Contact us

Tel:+86-025-51180705

Email:xinkansen@x-ipm.com

WeChat public account:X-IPM Technologies

Consultation Consult now