Nanjing X-IPM Technologies Co., Ltd.

动态电阻测试方法举例

Release date:2023-04-12 Writer: Category:Technical Article Views:485次

有多种方式测量动态电阻，这些方法都需要一个快速和准确的钳位电路
这里所举的例子，我们测量齐纳二极管DZ的电压降Vclamp来替代管子上的压降VDS ，因为管子的压降在测量过程中经历很大的电压变化（0~400V），普通的测量设备在这么宽的电压范围很难达到很高的测试精度。同时二极管D1的正向电压VD1也做了校准
R用来限制电流，防止因D1升温而使得测试精度变差

Source: Rui Li, Xinke Wu, Gang Xie, Kuang Sheng, Dynamic On-state Resistance Evaluation of GaN Devices under Hard and Soft Switching Conditions,

APEC 2018

Tel:+86-025-51180705

Email:xinkansen@x-ipm.com

WeChat public account:X-IPM Technologies

Consultation Consult now