氮化镓功率器件晶圆级测试举例

2023年04月13日
  • 测试未通过的芯片被标记,不被封装
  • 在这个例子里,我们有:
  • ü所有芯片(die): 229
  • ü坏的芯片: 32
  • ü良率: 86%
  • 晶圆级测试的参数值范围定义不能太窄,也不能定义太过宽松。太窄造成良率过低,太宽可能会放过一些有潜在问题的器件

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