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氮化镓功率器件晶圆级测试举例
时间：2023-04-13 作者： 分类：技术文章 浏览：702次
  • 测试未通过的芯片被标记，不被封装
  • 在这个例子里，我们有:
  • ü所有芯片(die): 229
  • ü坏的芯片: 32
  • ü良率: 86%
  • 晶圆级测试的参数值范围定义不能太窄，也不能定义太过宽松。太窄造成良率过低，太宽可能会放过一些有潜在问题的器件

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