氮化镓功率器件晶圆级测试举例
时间:2023-04-13 作者: 分类:技术文章 浏览:796次
  • 测试未通过的芯片被标记,不被封装
  • 在这个例子里,我们有:
  • ü所有芯片(die): 229
  • ü坏的芯片: 32
  • ü良率: 86%
  • 晶圆级测试的参数值范围定义不能太窄,也不能定义太过宽松。太窄造成良率过低,太宽可能会放过一些有潜在问题的器件