氮化镓功率器件晶圆级测试简介
时间:2023-04-13 作者: 分类:技术文章 浏览:810次

晶圆级测试(CP)可以通过一些列的测试项目分别出好的和坏的芯片。这些测试项目包括室温和高温两种测试条件。针对氮化镓功率器件,很多公司还提供CP动态特性测试,以完善筛选。一些测试项目举例:

Idss: 漏极漏电流
Igss门极漏电流
Vth阈值电压
Rdson通态电阻
gm跨导

通过 / 失效 取决于设定的参数范围,CP测试厂会标记出坏的芯片(或者提供Wafer Map)

https://www.mjc.co.jp/en/technology/

http://www.jemam.com/probecard.htm

https://www.formfactor.com/

http://www.jem-net.co.jp/en/products/pro_hando_top.html